红外显微镜的应用
2024-12-04(2856)次浏览
近红外成像使您能够对肉眼无法看到的电子元件进行显微镜检测。以下是近红外成像在工业检测中的一些强有力的方式:
1.检查晶圆水平芯片级封装(CSP)中的芯片损坏。
晶圆水平芯片级封装是晶圆水平的集成电路封装。使用显微镜的近红外成像可用于对热湿测试中出现的芯片损坏进行无损检测。合肥红外显微镜能够透过硅成像,因此您可以观察到熔炼泄漏、铜线腐蚀、树脂工件剥落以及其他问题。
2.进行倒装芯片无损分析。
顾名思义,倒装芯片是一种将芯片有效面积翻转,直接安装在基板、电路板或载体上的芯片封装方法。一旦倒装芯片被附着在工件上,就无法用可见光对芯片图案进行检测。相比之下,合肥红外显微镜使您能够透过硅对内部缺陷进行检查,不会对已安装的芯片造成破坏。这也是确定应进行聚焦离子束(FIB)处理区域的有效方法。
3.判断晶圆研磨量。
晶圆研磨是一个麻豆视频高清无码在线观看设备生产步骤,目的是降低晶圆厚度。需通过研磨使设备变薄,因此对晶圆两面进行测量的需求也相应增加。然而,要测量叠层晶圆两面的研磨量非常困难。合肥红外显微镜系统可以透过材料进行成像,在晶圆的正面和背面聚焦,使您能够获得大致距离。然后,您可以通过测量物镜的Z轴移动状态来判断研磨的程度。
4.判断3D安装配置中的芯片缝隙。
红外显微镜还可以协助进行硅缝隙管理。三维(3D)安装配置中的芯片缝隙可以通过测量红外光透过硅聚焦在芯片和中介层上时物镜的移动状态来进行无损判断。这种方法也可用于微电子机械系统设备的测量和空心构造。
5.对一系列高难度样品进行成像。
可使用较大的波长的短波红外(SWIR)成像(如1300-1500纳米范围)对难度更高的样品进行成像,例如微电子机械系统设备、重掺杂硅样品、表面粗糙的样品、晶圆粘结和3D芯片堆栈。这种方法可以使用更敏感的成像系统,如砷化铟镓(InGaAs)摄像头。在反射光或透射光显微镜下,专用红外物镜、高功率照明和InGaAs摄像头所带来的信号优势,让人们可以对难度更高的样品进行成像。
最新资讯
-
从实验室到生产线:麻豆视频APP在线观看如何重塑工业质检流程?
在制造业智能化转型的浪潮中,麻豆视频APP在线观看正从科研工具升级为“质量守门人”,通过全流...
-
突破传统光学极限!新一代智能麻豆视频APP在线观看实现纳米级微观结构可视化
近日,材料科学领域迎来技术革新——搭载“无限远光学系统+AI图像分析”的新一代金...
-
麻豆视频APP在线观看技术革新与应用拓展
在材料科学与工业质检领域,麻豆视频APP在线观看作为揭示金属内部微观结构的“透视眼”,正通过...
-
麻豆视频APP在线观看维护保养:延长寿命的6大关键技巧
麻豆视频APP在线观看作为精密光学仪器,日常维护直接影响成像质量与使用寿命。以下是核心保养要...
-
麻豆视频APP在线观看操作指南:从制样到成像的标准化流程
麻豆视频APP在线观看的观察效果不仅取决于设备性能,更依赖规范的操作与样品制备。以下是从制样...
173-1582-5640
公司地址:苏州市工业园区胜浦路258号26栋厂房


关注公众号